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从Page performance看每片MLC的可靠性并不相同

发表时间:2018-12-03 发表人:领存兵哥 评论数:0
尽管每个Nand Flash的datasheet都会注明Erase、Program、Read Performance的详细时间,事实上,这些Performance是将Lower page和Upper Page进行了平均,那么,给人的误导就是每个page的performance都是一样的,事实上,并非如此。

如果所有的page performace在每次program时都是基本相同的,那么,这个Nand Flash颗粒应该是最稳定、最可靠的,因此,通过观察每个page performance的分布,可以大致看出Nand Flash的可靠程度。


尽管每个Nand Flash的datasheet都会注明Erase、Program、Read Performance的详细时间,事实上,这些Performance是将Lower page和Upper Page进行了平均,那么,给人的误导就是每个page的performance都是一样的,事实上,并非如此。


测试方式如下:选择第1024(03FF)Block,做1000次P/E,生成每次P/E的图示,曲线越平稳,说明颗粒越稳定,曲线跳动越大,说明颗粒稳定性就越差。



page0 program耗时,看上去稳定性还不错



一个情况不是很理想的Lower page的耗时:



一个不太理想的Upper page的耗时:



小结:

总体来看,page program的分布比较凌乱,作为一个新的3D nand样品,可靠性也许还有提升的空间。


再看Erase:




从图片可以得出结论以及一些有意义的实际用途:


1、Block随Erase次数增加,proformance时间会变长;

2、这个结论可以用于鉴别二手Nand Flash或者翻新Nand Flash,市场上有很多假货,这些假货可能会导致工程师失业,一些Bug工程师可能熬白了头都弄不明白是Nand本身导致的,拼了老命去调试软件,结果只会越调越差。


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